2013年7月2日，半导体照明联合创新国家重点实验室(下称“实验室”)在常州召开LED驱动电源的可靠性加速测试技术研讨会。来自英飞特电子、深圳茂硕、惠州元晖、飞利浦、通用、雷士、燎原等企业的十余名代表参加了此次研讨会。

　　与会代表在LED照明用驱动电源的主要失效模式、可靠性测试模型、现有测试方法等方面展开热烈的讨论。针对如何在不引入新的失效模式下将可靠性测试时间减少至1000小时以内，企业代表就应力水平设计等问题进行了深入讨论，并表示会在后续试验中进一步深化与实验室的合作与交流。

　　LED照明产品使用过程中，驱动电源是产品的主要失效模式之一，其质量保证是LED照明产品推广应用的基础。现有LED照明产品的光通维持率的寿命预测方法并不能判定驱动的寿命及可靠性，市场照明产品质量的参差不齐严重影响了消费者信心。实验室联合国内驱动龙头企业、技术优势单位等共同研制驱动电源可靠性加速测试方法，为LED照明产品设计提供参考，将有助于提升产品质量，缩短产品研发周期，规范LED应用市场，树立消费者信心，提振企业的竞争力，开启规模市场。